2014-12-08
美國麥奇克3D顆粒圖像分析儀EPS0814 1-3 / Koplen F 
1089（EPS）測試
顆粒尺寸分析儀用于測量顆粒的形狀和大小分布。本分析儀用于實驗室測試。
樣品必須手動取自目標產(chǎn)品的顆粒流，然后放置到分析儀測量器皿中。
采用計算機可視化技術(shù)進行分析，先對樣品進行圖像快照，并存貯于計算機
中，然后對圖像進行分析。 
1. 測量顆粒尺寸
2. 測量顆粒的圓度
3. 統(tǒng)計顆粒數(shù)量
PartAn 3D特點
PartAn 3D采用多次成像方式方式進行樣品分析，
zui高成像速度可達170圖/秒。
在多成像模式下，樣品中的每個顆粒都被從不同
的角度多次測量。這樣會得到更多、更的關(guān)
于樣品尺寸、形狀分布的信息。
PartAn 3D測量原理 
樣品（1）被倒入料筒（2）準備測量。振動器
（3）振動使顆粒（4）平鋪開來，
然后從可調(diào)節(jié)（N：變窄；W：變寬）
流量的縫隙（10）中落下，zui后落入樣品收集盒（11）。
顆粒在下落過程中，攝像頭會記錄下落顆粒在閃光燈
（5）閃光時的影像。
顆粒的影像被傳送到計算機進行分析和計算，計算的結(jié)果被顯示在屏幕上。
光源和樣品伺服（振動器）都是自動控制的。
振動器的控制是以視頻圖像中覆蓋顆粒的區(qū)域基礎(chǔ)的。
在此區(qū)域（振動器設(shè)置點位）取決于當分析儀將實驗室屏幕標準化。
PartAn 3D測量結(jié)果 
測量結(jié)果包括：
面積 顆粒覆蓋的像素數(shù)
周長 顆粒周圍的像素數(shù)
長度 顆粒zui長方向上的像素數(shù)
厚度 顆粒zui厚方向上的像素數(shù)
數(shù)量 圖像中的顆粒數(shù)
覆蓋 計算圖像中被顆粒覆蓋的面積百分比
分析圖像采集速率為110副/秒。每個顆粒分析5-6次。
分析每個粒子的寬度，這種測量方法相比于標準篩選分析要好。
PartAn 軟件可以保存分析得到的每個顆粒的圖像，在測量完成后，可以查看顆粒的不規(guī)則形狀。
測試結(jié)論
Microtrac PartAn 3D能夠多次分析樣品中所有的顆粒并給出以下信息:
1. 正確的顆粒大小
2. 正確的顆粒形狀
3. 不規(guī)則顆粒的總量
4. 非圓形顆粒的濾函數(shù)
5. 長度和厚度的濾函數(shù)
6. Microtrac PartAn 3D的結(jié)果非常接近篩分分析的結(jié)果
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