激光粒度粒形分析儀能夠提供微米甚至納米級(jí)別的粒度測(cè)量
2024-05-08
激光粒度粒形分析儀是一種采用激光散射原理對(duì)顆粒的尺寸分布和形狀進(jìn)行精確測(cè)量的分析儀器。廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、化學(xué)、制藥、環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品工業(yè)以及礦產(chǎn)加工等領(lǐng)域，對(duì)于顆粒狀物質(zhì)的質(zhì)量控制和研發(fā)工作至關(guān)重要。通過發(fā)射激光束照射到顆粒樣品上，然后檢測(cè)散射光或衍射光的模式來分析顆粒的尺寸和形狀。散射光模式取決于顆粒大小，而形狀分析則可能依賴于對(duì)散射圖案的更復(fù)雜處理或結(jié)合其他技術(shù)（如圖像分析）。高級(jí)的設(shè)備能夠提供三維的顆粒形狀信息。
1.高精度與高分辨率：能夠提供微米甚至納米級(jí)別的粒度測(cè)量。
2.非侵入性測(cè)量：測(cè)試過程不會(huì)破壞或改變樣品的狀態(tài)。
3.快速分析：大多數(shù)現(xiàn)代儀器能夠在幾秒至幾分鐘內(nèi)完成測(cè)量。
4.寬泛的測(cè)量范圍：適用于從幾納米到幾毫米大小的顆粒。
5.數(shù)據(jù)豐富：提供粒度分布、平均粒徑、分散度等多維度數(shù)據(jù)。
6.自動(dòng)化操作：自動(dòng)校準(zhǔn)、測(cè)量和數(shù)據(jù)解析減少了人為誤差。
7.用戶友好的軟件：配備易于使用的軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和報(bào)告生成。
操作流程：
1.準(zhǔn)備樣品：將待測(cè)樣品均勻分散在適當(dāng)?shù)慕橘|(zhì)中，以避免顆粒團(tuán)聚。
2.設(shè)置參數(shù)：根據(jù)所需測(cè)量的顆粒大小范圍設(shè)定儀器參數(shù)。
3.進(jìn)行測(cè)量：?jiǎn)?dòng)設(shè)備，激光照射到樣品上并記錄散射或衍射模式。
4.數(shù)據(jù)分析：內(nèi)置軟件處理散射數(shù)據(jù)，計(jì)算粒度分布和形狀參數(shù)。
5.結(jié)果輸出：生成包含詳細(xì)測(cè)量數(shù)據(jù)的報(bào)告，可進(jìn)行打印或電子存檔。
激光粒度粒形分析儀的維護(hù)與保養(yǎng)：
1.清潔光學(xué)系統(tǒng)：保持光學(xué)元件的清潔，避免塵埃污染影響測(cè)量精度。
2.檢查和更換介質(zhì)：確保分散介質(zhì)的清潔，必要時(shí)更換介質(zhì)液體。
3.軟件更新：定期更新分析軟件以獲得最新的功能和性能提升。
4.硬件檢查：周期性檢查和校準(zhǔn)探測(cè)器和其他關(guān)鍵硬件部件。
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